回路開閉現象研究のマイクロラボ構想と研究状況

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ED08075

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門　放電研究会

発行日: 2008/06/24

タイトル(英語): Concept of micro circuit interrupting phenomenon research laboratory

著者名: 池田 久利(九州工業大学),原田 克彦(九州工業大学),大塚信也 (九州工業大学),匹田 政幸(九州工業大学)

著者名(英語): Hisatoshi Ikeda(Kyushu Institute of Technology),Katsuhiko Harada(Kyushu Institute of Technology),Shinnya Ohtsuka(Kyushu Institute of Technology),Masayuki Hikita(Kyushu Institute of Technology)

キーワード: 回路開閉現象|大学での研究|マイクロマシーン|加速度センサ|遮断器|変圧器通過故障|変圧器モデル|漏れインダクタンス|漏れキャパシタンス|Circuit interrupting phenomenon|University research|MEMS|Acceleration sensor|Circuit breaker|Transformer limited fault|Trans

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 643 Kバイト