固体絶縁開閉装置用真空バルブの真空度低下について

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ED13141

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 放電研究会

発行日: 2013/11/20

タイトル(英語): Reduction of Vacuum Degree in Vacuum Valve for Solid Insulated Switchgear

著者名: 松田 大二(三菱電機株式会社),楫野 宏樹(三菱電機株式会社),吉田 大輔(三菱電機株式会社),笹森 健次(三菱電機株式会社)

著者名(英語): Matsuda Daiji(Mitsubishi Electric Corporation),Kajino Hiroki(Mitsubishi Electric Corporation),Yoshida Daisuke(Mitsubishi Electric Corporation),Sasamori Kenji(Mitsubishi Electric Corporation)

キーワード: 真空バルブ|真空度低下|経年|スローリーク|パッシェンの法則|固体絶縁開閉装置|vacuum interrupter|reduction of vacuum degree|aging degradation|slow leakage|Paschen's law|solid insulated switchgear

要約(日本語): 固体絶縁開閉装置（SIS）は、高度成長期に製造/設置され、都心部を中心に数多く運用され続けてきた。近年、この高経年化に伴い、その更新時期に入ってきており、今回のこの更新時に回収したSISに対し、適用されている真空バルブの真空度劣化調査を実施したので、その実態について報告する。

要約(英語): Vacuum degree of the vacuum interrupter for solid Insulated switchgear was investigated for the equipment that had been operated in the field. Investigation results showed that vacuum pressure was higher than the shipping criteria although most of them were lower than the upper limit to secure dielectric and interrupting performance.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 872 Kバイト