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SiC半絶縁性基板上へのイオン注入を用いたMESFET作製
SiC半絶縁性基板上へのイオン注入を用いたMESFET作製
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カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: EDD07046
グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス研究会
発行日: 2007/03/02
タイトル(英語): Development of fully ion implanted MESFET on a bulk semi-insulating substrate
著者名: 新井 学(新日本無線),片上崇治 (新日本無線),尾形 誠(新日本無線),小野 修一(新日本無線)
著者名(英語): Manabu Arai(New Japan Radio Co.,Ltd.),Shuiji Katakami(New Japan Radio Co.,Ltd.),Makoto Ogata(New Japan Radio Co.,Ltd.),Shuichi Ono(New Japan Radio Co.,Ltd.)
キーワード: SiC|MESFET|イオン注入|RF特性|SiC|MESFET|ion implantation|RF characteristics
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 368 Kバイト
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