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マイクロ波測定技術のパワー素子への適用検討~TDRとネットワークアナライザによる寄生LCRの測定~

マイクロ波測定技術のパワー素子への適用検討~TDRとネットワークアナライザによる寄生LCRの測定~

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カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EDD07079

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス研究会

発行日: 2007/10/25

タイトル(英語): A study of power device parasitic LCR measurement with TDR and network analyzer

著者名: 池田 佳子(東芝セミコンダクター社),大村一郎 (東芝セミコンダクター社)

著者名(英語): Yoshiko Ikeda(Toshiba Corp. Semiconductor Company),Ichiro Omura(Toshiba Corp. Semiconductor Company)

キーワード: パワー半導体|パッケージ|寄生インダクタンス|TDR|ネットワークアナライザ|power semiconductor device|package|parasitic inductance|TDR|network analyzer

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 680 Kバイト

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