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TDRによる電圧依存性のキャパシタンス測定法
TDRによる電圧依存性のキャパシタンス測定法
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カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: EDD09050
グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス研究会
発行日: 2009/10/29
タイトル(英語): A Method for Measuring Voltage Dependant Capacitance Using TDR System
著者名: 有賀 善之介(首都大学東京),和田 圭二(首都大学東京),清水 敏久(首都大学東京)
著者名(英語): Zen Ariga(Tokyo Metropolitan University),Keiji Wada(Tokyo Metropolitan University),Toshihisa Shimizu(Tokyo Metropolitan University)
キーワード: 回路パラメータ|等価回路|TDR|MOSFET|Circuit parameter|equivalent circuit|TDR|MOSFET
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 795 Kバイト
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