波形振動を抑制する高耐圧ダイオードのダイナミック･パンチスルー設計

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EDD09058

グループ名: 【C】電子･情報･システム部門　電子デバイス研究会

発行日: 2009/10/29

タイトル(英語): Dynamic Punch-Through Design of High-Voltage Diode for Suppression of Waveform Oscillation

著者名: 附田 正則(東芝),崎山 陽子(東芝),二宮 英彰(東芝),山口 正一(東芝)

著者名(英語): Masanori Tsukuda(Toshiba),Yoko Sakiyama(Toshiba),Hideaki Ninomiya(Toshiba),Masakazu Yamaguchi(Toshiba)

キーワード: 波形振動|高耐圧ダイオード|ダイナミック･パンチスルー|サージ電圧|逆回復損失|蓄積キャリア|ライフタイムコントロール|キャリア分布|パンチスルー位置|Waveform oscillation|High-voltage diode|Dynamic punch-through|Surge voltage|Reverse recovery loss|Stored carrier|Lifetime control|Carrier profile|Punch-through position

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 677 Kバイト