高耐圧MOSトランジスタの端子間容量測定

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EDD09072

グループ名: 【C】電子･情報･システム部門　電子デバイス研究会

発行日: 2009/10/30

タイトル(英語): Measurement of Terminal Capacitances of High Voltage MOS power transistors

著者名: 舟木 剛(大阪大学),パンコーンナタパット (京都大学),引原 隆士(京都大学)

著者名(英語): Tsuyoshi Funaki(Osaka University),Phankong Nathabhat(Kyoto University),Takashi Hikihara(Kyoto University)

キーワード: 端子間容量|Cgs|Cgd（Crss）|Cds|Ciss|Coss|Terminal capacitance|Cgs|Cgd(Crss)|Cds|Ciss|Coss

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 802 Kバイト