低損失、低サージ電圧にむけたダイオードの電子およびホール欠陥の研究

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EDD12070,SPC12143

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス/【D】産業応用部門 半導体電力変換合同研究会

発行日: 2012/10/25

タイトル(英語): Study of Electron and Hole Traps in Freewheering Diodes (FWDs) for Low Loss and Low Reverse Recovery Surge Voltage

著者名: 亀山 悟(トヨタ自動車株式会社),原 雅史(トヨタ自動車株式会社),久保 友裕(株式会社東芝),平原 文雄(株式会社東芝),海老根 淳平(トヨタテクニカルディベロップメント株式会社),村上 浩一(トヨタテクニカルディベロップメント株式会社)

著者名(英語): Satoru Kameyama(Toyota Motor Corporation),Masafumi Hara(Toyota Motor Corporation),Tomohiro Kubo(Toshiba Corporation),Fumio Hirahara(Toshiba Corporation),Junpei Ebine(Toyota Technical Development Corporation),Koichi Murakami(Toyota Technical Development Corporation)

キーワード: 還流ダイオード|ライフタイムコントロール|電子・ホールトラップ|リカバリサージ電圧|Freewheeling diode|lifetime control|electron and hole traps|reverse recovery surge voltage

要約(日本語): 本論文ではHVむけﾊﾟﾜｰﾀﾞｲｵｰﾄﾞの低損失、低ｻｰｼﾞ電圧にむけた電子およびﾎｰﾙ欠陥の研究を報告する。本研究により、電子欠陥とﾎｰﾙ欠陥では損失に与える影響は同様であるが、ｻｰｼﾞ電圧への影響が異なることが判明。これらの欠陥を制御することにより低損失、低ｻｰｼﾞ電圧素子を実現できることを提案する。

要約(英語): The purpose of the research described in this paper is to achieve freewheeling diodes (FWDs) with low loss and low reverse recovery surge voltage (Vdsurge)._x000D_ The analysis clarified that controlling trap conditions is essential_x000D_ when designing device DC and AC loss as well as Vdsurge.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,195 Kバイト