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マイクロフィルムセンサを用いた電流集中現象の画像化
マイクロフィルムセンサを用いた電流集中現象の画像化
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カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: EDD13064,SPC13126
グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス/【D】産業応用部門 半導体電力変換合同研究会
発行日: 2013/10/21
タイトル(英語): IGBT chip current imaging system by scanning local magnetic field
著者名: 松下 幸平(九州工業大学),白土 博章(九州工業大学),大村 一郎(九州工業大学)
著者名(英語): Kohei Matsushita(Kyushu Institute of Technology),Hiroaki Shiratsuchi(Kyushu Institute of Technology),Ichiro Omura(Kyushu Institute of Technology)
キーワード: パワーデバイス|マイクロフィルムセンサ|IGBT|画像化|LabVIEW|power device|micro-film sensor|IGBT| imaging |LabVIEW
要約(日本語): IGBTなどパワーデバイスのチップ上の電流分布を画像化するシステムを開発している。本システムは、パワーデバイスの破壊の原因となる電流集中現象を解析することができる。超小型かつ超薄型、安価で大量生産可能、非破壊非接触で測定可能なマイクロフィルムセンサ(超小型磁束センサ)、4軸ロボット、アナログアンプ、デジタイザ、ファンクションジェネレータの全システムをLabVIEW上で統合し、自動的に計測が行える。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 1,207 Kバイト
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