1200V SC(Schottky Controlled Injection)-Diodeにおけるアノードおよびカソード注入効率の検証

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EDD14076,SPC14138

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス/【D】産業応用部門 半導体電力変換合同研究会

発行日: 2014/10/30

タイトル(英語): Advanced Cathode and Anode Injection Control Concept for 1200V SC(Schottky Controlled Injection)-Diode

著者名: 末代 知子(東芝),小倉 常雄(東芝),押野 雄一(東芝),小林 太一(東芝),三須 伸一郎(東芝),池田 佳子(東芝),中村 和敏(東芝)

著者名(英語): Tomoko Matsudai(Toshiba Corporation),Tsuneo Ogura(Toshiba Corporation),Yuuichi Oshino(Toshiba Corporation),Taichi Kobayashi(Toshiba I.S. Corporation),Shinichiro Misu(Toshiba Corporation),Yoshiko Ikeda(Toshiba Corporation),Kazutoshi Nakamura(Toshiba Corporation)

キーワード: ダイオード|注入効率|ショットキー|低電流|発振|リカバリ耐量|diode|injection efficiency|Schottky|low current|ringing|reverse recovery ruggedness

要約(日本語): 昨年発表した低注入、高キャリアライフタイムをもつSC-ダイオードについてのシミュレーションと実測の続報。トランスパレント構造から、Nショットキー領域を混在したカソード構造への変更でさらなる低注入化を図り、アノード、カソード各々の注入効率を制御し素子全体のキャリアプロファイルを調整することで低電流時の発振抑制も図る。さらにはアノード領域の形状を見直すことでリカバリ耐量向上も確認した。

要約(英語): This paper proposes an advanced low injection cathode concept with N Schottky region enabling the SC-diode to obtain fast recovery characteristics. We discuss a balance of injection efficiency between anode side and cathode side, which is very important for reducing voltage ringing. Furthermore, we have obtained high reverse recovery ruggedness by controlling impact ionization position where is only bottom of deep P anode layer.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 2,358 Kバイト