空洞共振器法を用いた中損失誘電体材料のミリ波複素誘電率測定-薄型試料による検討-

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EDD15058

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス研究会

発行日: 2015/06/05

タイトル(英語): Millimeter wave measurements of complex permittivity for mid-loss dielectric material by a cavity resonator method.

著者名: 土屋 広樹(宇都宮大学),小島 駿佑(宇都宮大学),清水 隆志(宇都宮大学),古神 義則(宇都宮大学)

著者名(英語): Hiroki Tsuchiya(Utsunomiya university),Shunsuke Kojima(Utsunomiya university),takashi Shimizu(Utsunomiya university),Yoshinori Kogami(Utsunomiya university)

キーワード: ミリ波|空洞共振器法|中損失誘電体材料|複素誘電率|millimeter wave|cavity resonator method|mid-loss dielectric material|complex permittivity

要約(日本語): 空洞共振器法により中損失誘電体材料の複素誘電率測定を行う場合、損失が大きいためQ値が低く測定が困難である。しかしQ値が高くなる薄い中損失材料を用いて適切な励振状態を選択することで測定出来る可能性がある。本報告では、適切な励振状態と共振特性の高精度取得について検討し、空洞共振器法にて中損失誘電体材料であるシリコーンの複素誘電率測定を行ったので報告する。

要約(英語): In this paper, we study on appropriate excitation state and, high-precision measurements for resonant frequency and unloaded Q for mid-loss thin dielectric plates by the cavity resonator method. Moreover, the measured results of complex permittivity for silicone plates wii be shown.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 673 Kバイト