イットリア安定化ジルコニア平板の20GHz帯における複素誘電率測定と結晶構造測定

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EDD15060

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス研究会

発行日: 2015/06/05

タイトル(英語): Complex permittivity measurements at 20GHz band and crystal structure measurements for Yttria-stabilized zirconia plates

著者名: 磯部 陽貴(宇都宮大学),清水 隆志(宇都宮大学),古神 義則(宇都宮大学)

著者名(英語): Haruki Isobe(Utsunomiya Univ.),Takashi Shimizu(Utsunomiya Univ.),Yoshinori Kogami(Utsunomiya Univ.)

キーワード: ＹＳＺ|面方位|結晶構造|複素誘電率|マイクロ波|YSZ|surface orientation|crystal structure|complex permittivity|microwave

要約(日本語): 結晶性材料は高周波回路材料として用いられることがある。このため、複素誘電率をマイクロ波帯で評価することの意義は大きい。マイクロ波帯における複素誘電率の報告例が乏しいイットリア安定化ジルコニア(YSZ)に注目した。本報告では、遮断円筒導波管法によりYSZ平板の複素誘電率を20GHz帯において明らかにした。さらに、XRDにより結晶構造測定を行い、複素誘電率の測定結果との関連性を検討した。

要約(英語): In this report, complex permittivity of Yttria-stabilized zirconia plates with two different surface orientation are measured by the cut-off circular waveguide method in 20GHz band. Moreover, the relationship between the measured results and their crystal structures are studied.　

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 666 Kバイト