電解コンデンサの浮遊容量に起因するEMIノイズの解析

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EDD16057,SPC16144

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス/【D】産業応用部門 半導体電力変換合同研究会

発行日: 2016/11/14

タイトル(英語): Analysis of EMI noise caused by the stray capacitance of an electrolytic capacitor

著者名: 白井 諒(首都大学東京),清水 敏久(首都大学東京)

著者名(英語): Ryo Shirai(Tokyo Metropolitan University),Toshihisa Shimizu(Tokyo Metropolitan University)

キーワード: ＥＭＩノイズ|電解コンデンサ|コンデンサバンド|浮遊容量|EMI noise|Electrolytic capacitor|Capacitor clamp|Stray capacitor

要約(日本語): パワエレ機器において使用される電解コンデンサは金属製のコンデンサバンドによってシャーシなどに取り付けられることがある。その際、電気的安全性の観点からコンデンサバンドを接地することが一般的であるが、電解コンデンサとコンデンサバンドの間に存在する浮遊容量を介する新たなノイズ経路が生じてしまう。本論ではコンデンサバンドを接地して使用した場合のEMIノイズの定量的解析を行い、ノイズ低減手法を提案した。

要約(英語): A capacitor clamp is used for fastening an electrolytic capacitor on the chassis of power electronics equipment, and the capacitor clamp is grounded due to its electrical safety. However, there is the stray capacitance between the capacitor clamp and cathode of the electrolytic capacitor. Hence the capacitor clamp affects to the EMI noise. In this study, we analyzed the EMI noise and proposed a new method to reduce the EMI noise.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 7,298 Kバイト