ダブルパルス試験によるパワーエレクトロニクス機器用ノイズ計測システムの構築

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EDD17062,SPC17161

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス/【D】産業応用部門 半導体電力変換合同研究会

発行日: 2017/11/20

タイトル(英語): Front-Loading of EMI Test: A New Noise Measurement System

著者名: 岩﨑 量旺(九州工業大学),長谷川 一徳(九州工業大学),安部 征哉(九州工業大学),大村 一郎(九州工業大学)

著者名(英語): Kazuaki Iwasaki(Kyushu Institute of Technology),Kazunori Hasegawa(Kyushu Institute of Technology),Seiya Abe(Kyushu Institute of Technology),Ichiro Omura(Kyushu Institute of Technology)

キーワード: パワーエレクトロニクス|電磁妨害|半導体デバイス|スペクトル解析|ダブルパルス試験|ノイズ計測システム|Power electronics|Electromagnetic interference|Semiconductor device|Spectrum anlysis|Double pulse test |Noise measurement system

要約(日本語): パワー半導体のスイッチング時に発生するノイズスペクトルを、空間分布として容易に可視化するシステムを構築した。本システムは、スイッチング試験として知られるダブルパルス試験でノイズ波形データを時間ドメインで蓄積し、その波形データを高速フーリエ変換することでノイズスペクトルを得ている。連続運転による方法に比べ計測が著しく簡便になり、ノイズ試験のフロントローディングが可能となる。

要約(英語): The paper proposes a new EMI measurement system for power electronics equipment with double pulse test. The system is capable of confirming EMI level of power electronics in an early stage of development. In addition, the system identifies the noise sources in the surface of the power electronics by scanning the near magnetic field.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,357 Kバイト