電流分布に基づくパワーモジュールの新しいスクリーニング法の提案

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EDD17082,SPC17181

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス/【D】産業応用部門 半導体電力変換合同研究会

発行日: 2017/11/20

タイトル(英語): Proposal of New Screening Method of Power Modules based on Current Distribution

著者名: 附田 正則(北九州市環境エレクトロニクス研究所),結城 大介(九州工業大学),朝長 大貴(九州工業大学),金 亨燮(九州工業大学),大村 一郎(九州工業大学)

著者名(英語): Masanori Tsukuda(Green Electronics Research Institute, Kitakyushu),Daisuke Yuki(Kyushu Institute of Technology),Hiroki Tomonaga(Kyushu Institute of Technology),Hyoungseop Kim(Kyushu Institute of Technology),Ichiro Omura(Kyushu Institute of Technology)

キーワード: ＩＧＢＴ|パワーモジュール|スクリーニング|電流分布|画像処理|不良分析|IGBT|Power module|Screening|Current distribution|Image processing|Failure analysis

要約(日本語): 我々はIGBTを使ったパワーモジュールのセラミック基板レベルでの新しいスクリーニング方法と装置を開発した。スクリーニング装置は取得した電流分布を基に、統計的手法と画像処理を組み合わせて良品と不良品を判断する。本方法および装置はパワーモジュール製造ラインの最終工程でのスクリーニングや不良分析に活用することが期待される。

要約(英語): We developed a screening equipment for ceramic substrate level power module of IGBT. The equipment acquires current signals and finally classifies to normal/abnormal module. We established statistics based classification with image processing. It is expected to be applied for screening in a production line and failure analysis of power modules.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 2,891 Kバイト