パワーデバイスを対象とした電力回生型連続スイッチング試験装置

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EDD20061,SPC20211

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス/【D】産業応用部門 半導体電力変換合同研究会

発行日: 2020/12/21

タイトル(英語): Power regenerative continuous switching test system for power devices

著者名: 林 真一郎(東京都立大学),和田 圭二(東京都立大学)

著者名(英語): Shin-Ichiro Hayashi(Tokyo Metropolitan University),Keiji Wada(Tokyo Metropolitan University)

キーワード: 連続スイッチング試験|ＳｉＣ　ＭＯＳＦＥＴ|長期信頼性|continuous switching test|SiC MOSFET|long-term reliability

要約(日本語): 本研究では，降圧チョッパと昇圧チョッパを縦続接続させた電力回生型の回路を対象に，パワーデバイスの連続スイッチング試験に適した試験機の設計指針を検討した。降圧チョッパと昇圧チョッパの接続順序により，特長が異なる試験機となることを示す。また，それぞれの回路パラメータおよび制御方法の検討と，被試験デバイスの故障を想定した回路解析を実施したので，その設計指針を報告する。さらに，9 kWの試験装置を製作し，実験により提案する設計指針の妥当性を示す。

要約(英語): In this study, the design method for test circuits for continuous switching tests of power devices is proposed. These test circuits consist of a cascaded buck-boost (or boost-buck) converter in order to achieve power regeneration. 9 kW test systems are designed, and experimental results shows the validity of the proposed design method.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,461 Kバイト