SiGe HBT ECL位相周波数比較器を用いたKu帯低雑音PLL

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EFM08026

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門　電子材料研究会

発行日: 2008/09/27

タイトル(英語): A Ku-band Low Noise PLL using SiGe HBT ECL Phase Frequency Detector

著者名: 堤 恒次(三菱電機),小牧 昌彦(三菱電機),末松 憲治(三菱電機)

著者名(英語): Koji Tsutsumi(Mitsubishi Electric),Masahiko Komaki(Mitsubishi Electric),Noriharu Suematsu(Mitsubishi Electric)

キーワード: 位相同期ループ|位相周波数比較器|エミッタカップルドロジック|フリッカ雑音|1/f雑音|Phase Locked Loop|Phase Frequency Detector|Emitter Coupled Logic|flicker noise|1/f noise

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 606 Kバイト