2直列接続Si-IEGTとSiC-PiNダイオードペアのスイッチング特性の実験結果

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EFM09020

グループ名: 【C】電子･情報･システム部門　電子材料研究会

発行日: 2009/10/29

タイトル(英語): Experimental Results of Switching Characteristic of Si-IEGTs and SiC-PiN Diodes Pair Connected in Series

著者名: 成慶 (茨城工業高等専門学校),秋山 裕信(茨城工業高等専門学校),高尾 和人(東芝),金井 丈雄三菱電機産業システム(東芝三菱電機産業システム),田中 保宣(産業技術総合研究所),大橋 弘通(産業技術総合研究所)

著者名(英語): Kyungmin Sung(Ibaraki National College of Technology),Hironobu Akiyama(Ibaraki National College of Technology),Kazuto Takao(Toshiba),Takeo Kanai Mitsubisi-Electric Industrial Systems Corporation (Toshiba Mitsubisi-Electric Industrial Systems Corporation),Yasunori Tanaka(National Institute of Advanced Industrial Science and Tech),Hiromichi Ohashi(National Institute of Advanced Industrial Science and Tech)

キーワード: Si-IEGT|SiC-PiNダイオード|直列接続|ハードスイッチング|Si-IEGT|SiC-PiN diode|Series Connection|Hard-switching

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 687 Kバイト