有機薄膜デバイスの欠陥について

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EFM10008

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子材料研究会

発行日: 2010/05/21

タイトル(英語): Defect of Organic Thin Film Electronic Devices

著者名: 白石 洋太郎(日本精機株式会社)

著者名(英語): Shiraishi Yotaro(Nippon Seiki Co.,Ltd.)

キーワード: 　有機薄膜|有機デバイス|有機ＥＬ|欠陥|リーク電流|バーンイン|organic thin film|organic device|OLED|defect|leakage current|burn in

要約(日本語): 有機薄膜デバイス実用化の課題に、基板の形状的な欠陥やプロセス中に混入する異物欠陥に起因するリークの抑制が挙げられる。この課題へ製造工程面から対策するには、有機薄膜形成工程と検査工程での欠陥制御が効果的である。

要約(英語): In organic thin film electronic devices, it is very important to eliminate the electrical leakage current due to the structural defects. From the view point of production process side, these defects controlled in the organic layer formation process and the electrical test process are both effective for the decrease of the electrical leakage.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 523 Kバイト