ICの伝導イミュニティ測定と回路解析に基づくESDに対するイミュニティ評価方法の開発

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EMC09005

グループ名: 【A】基礎･材料･共通部門　電磁環境研究会

発行日: 2009/01/21

タイトル(英語): Immunity Estimation to Electrostatic Discharge by Circuit Simulation and Conducted Immunity Measurement of ICs

著者名: 白木 康博(三菱電機)

著者名(英語): Yasuhiro Shiraki(Mitsubishi Electric Corporation)

キーワード: ESD|イミュニティ|IC|回路解析|伝導イミュニティ|ESD|Immunity|IC|Circuit Simulation|Conducted Immunity

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 449 Kバイト