高電力電磁環境試験システムの検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EMC10038

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 電磁環境研究会

発行日: 2010/11/02

タイトル(英語): Study on High Power ElectroMagnetic Environment Test System

著者名: 関口 秀紀(大阪大学)

著者名(英語): Sekiguchi Hidenori(Osaka University)

キーワード: 電子機器|イミュニティ|意図的電磁障害|セキュリティ|インパルス放射・受信システム|electronic equipment|imunity|intentional electromagnetic interference|security|impulse radiating and receiving system

要約(日本語): 電子機器が高電力電磁環境に曝された場合，機器が誤動作することが知られており，意図的な電磁妨害による電子機器のセキュリティが懸念されている．本報告では，高電力・広周波数帯域の放射電磁妨害による電子機器のイミュニティ性能を評価するインパルス放射試験を行う際の試験システムについて検討を行った．

要約(英語): The present study has been conducted in order to evaluate the security of electronic equipments due to intentional electromagnetic Interference (IEMI). Impulse radiating system that can generate high-power and wide-band electromagnetic environment has been considered as one of the test systems of EIMI. This paper discussed on the receiving system for the radiated impulse signal.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,992 Kバイト