空芯インダクタにおける近接効果を考慮に入れた銅損モデル式の妥当性検証

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EMC13016

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 電磁環境研究会

発行日: 2013/03/12

タイトル(英語): The copper loss model validation for air-core inductor with proximity effect

著者名: 井渕 貴章(大阪大学),舟木 剛(大阪大学)

著者名(英語): Ibuchi Takaaki(Osaka University),Funaki Tsuyoshi(Osaka University)

キーワード: コンバータ回路|空芯インダクタ|銅損|表皮効果|近接効果

要約(日本語): 高周波数でスイッチング動作するコンバータ回路や非接触給電には空芯コイルが用いられており、損失特性を考慮に入れた最適設計が望まれている。本報告では、空芯インダクタの銅損モデル化に向け、高周波数領域で顕著となる表皮効果や近接効果の影響を考慮に入れた交流抵抗のモデル式について、その導出過程の検証および実測結果との比較を通じて、モデルの妥当性や適用範囲について検討する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,401 Kバイト