商品情報にスキップ
1 1

TEMセルを用いた広帯域伝導妨害端子電圧測定装置の改良

TEMセルを用いた広帯域伝導妨害端子電圧測定装置の改良

通常価格 ¥330 JPY
通常価格 セール価格 ¥330 JPY
セール 売り切れ
税込

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EMC15003

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 電磁環境研究会

発行日: 2015/03/02

タイトル(英語): Improvement of conducted-voltage measuring apparatus in broadband using TEM cell

著者名: 石上 忍(情報通信研究機構),後藤 薫(情報通信研究機構),呉 奕鋒(情報通信研究機構),松本 泰(情報通信研究機構)

著者名(英語): Shinobu Ishigami(NICT),Kaoru Gotoh(NICT),Ifong Wu(NICT),Yasushi Matsumoto(NICT)

キーワード: TEMセル|伝導妨害|電圧|広帯域|測定|TEM cell|conducted emission |voltage|broadband|measurement

要約(日本語): TEMセルを用いた1GHzまで測定可能な伝導妨害端子電圧測定装置の動作原理と実際に測定した結果について既に報告を行っているが,1線測定時の他線の扱いが測定結果に影響を与えていた.そこで,本装置の改良版について,紹介する.

要約(英語): The conducted-voltage measuring apparatus in broadband using a TEM cell was proposed in the previous report. However, the line impedance and common mode impedance may be varied when a line under test is changed to another line. In this report, an improved apparatus is proposed.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 931 Kバイト

販売タイプ
書籍サイズ
ページ数
詳細を表示する