意図的な電磁妨害時にハードウェアトロイより引き起こされる情報漏えい評価に関する基礎検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EMC16013

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 電磁環境研究会

発行日: 2016/03/22

タイトル(英語): Fundamental Study on Evaluation of EM information Leakage caused by IEMI with Hardware Trojan

著者名: 衣川 昌宏(仙台高等専門学校),林 優一(東北学院大学),森 達哉(早稲田大学)

著者名(英語): Masahiro Kinugawa(National Institute of Technology, Sendai College),Yu-ichi Hayashi(Tohoku Gakuin University),Tatsuya Mori(Waseda University)

キーワード: 電磁情報セキュリティ|意図的な電磁妨害|環境電磁工学|EM Information Security|Intentional Electromagnetic Interference|Electromagnetic Compatibility

要約(日本語): ICの製造時にハードウェアトロイ（HT）が実装され、特定の状況下において、ICの破壊やセキュリティの低下を引き起こす新たな脅威が報告されており、対処しなければならない重要なセキュリティ課題の１つとなっている。本稿ではICの周辺回路や配線に実装可能なHTを試作し、意図的な電磁妨害時に機器内部で取得される秘密情報が取得出来る可能性について検討すると共に、こうしたHTが実装された場合の検出手法についても検討を行う。

要約(英語): In this paper, we developed a Hardware Trojans (HT) that could be implemented in the peripheral circuits and wiring of an IC, investigated the possibility of being able to acquire information processed inside a device by measuring the electromagnetic waves generated and leaked by the HT outside the device.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 819 Kバイト