ICチップにおけるオンチップノイズと電磁ノイズの観測と評価

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EMC16014

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 電磁環境研究会

発行日: 2016/03/22

タイトル(英語): Measurements and evaluation of on-chip noise and electormagnetic noise in an IC chip

著者名: 上坂 純平(神戸大学),小西 秀人(神戸大学),田中 聡(東北大学),山口 正洋(東北大学),永田 真(神戸大学)

著者名(英語): Junpei Kousaka(Kobe University),Hideto Konishi(Kobe University),Satoshi Tanaka(Tohoku University),Masahiro Yamaguchi(Tohoku University),Makoto Nagata(Kobe University)

キーワード: 電源ノイズ|電磁ノイズ|電磁環境両立性|集積回路|パッケージ|プリント基板|Power noise|Electromagnetic noise|Electromagnetic compatibility|Integrated circuits|Packaging|Printed circuit board

要約(日本語): LTE級無線受信回路とデジタルノイズ発生回路を搭載したICチップについて、オンチップノイズモニタによるチップ内電圧ノイズおよびEMCテスタによるボード上電磁ノイズを観測するとともに、ボード上のノイズ低減手段の効果や移動体通信性能に対するノイズの影響について評価した。

要約(英語): An IC chip integrates LTE-class receiver and digital noise source circuits. An on-chip monitor and EMC tester are used for measuring on-chip voltage and on-board electromagnetic noise, respectively. The noise is evaluated in terms of mitigation by on-board reducer and impacts on wireless communication performance.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 3,669 Kバイト