ブルートフォース的漏えいパラメタ推定に基づくモバイル端末への 電磁的盗視の脅威に関する検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EMC17008

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 電磁環境研究会

発行日: 2017/02/27

タイトル(英語): Threat of Screen Image Reconstruction in Mobile Devices based on Leakage Parameters Estimated by Brute-force Attacks

著者名: 林 優一(東北学院大学)

著者名(英語): Yuichi Hayashi(Tohoku Gakuin University)

キーワード: 電磁波セキュリティ|EM Information Security

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,889 Kバイト