レーザ技術を用いたポリマーがいしの非接触劣化診断手法の開発

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EPP20042

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 放電・プラズマ・パルスパワー研究会

発行日: 2020/07/16

タイトル(英語): Development of Contactless Deterioration Diagnosis for Polymeric Insulators Using Laser Technology

著者名: 本間 大成(東京大学大学院),熊田 亜紀子(東京大学大学院),藤井 隆(東京大学大学院),本間 宏也(電力中央研究所),大石 祐嗣(電力中央研究所)

著者名(英語): Taisei Homma(The University of Tokyo),Akiko Kumada(The University of Tokyo),Takashi Fujii(The University of Tokyo),Hiroya Homma(Central Research Institute of Electric Power Industry),Yuji Oishi(Central Research Institute of Electric Power Industry)

キーワード: ポリマーがいし|レーザ誘起ブレイクダウン分光|劣化診断|経年|遠隔計測|プラズマ

要約(日本語): 本研究ではポリマーがいしの非接触劣化診断手法を提案する。レーザ誘起ブレイクダウン分光(LIBS)により経年ポリマーがいし中のSiとAlの発光強度を測定した。経年ポリマーがいし表面近傍の劣化層ではAlに対するSiの発光強度比が未劣化部と比較して低下することが確認された。さらにエネルギー分散型X線分光の計測結果と比較し，同様の劣化傾向がLIBSを用いて計測可能であることが確認された。

要約(英語): Spectroscopic lines of Si and Al contained in polymeric insulator were investigated by laser-induced breakdown spectroscopy for the application to the deterioration diagnostics of the insulator. The results well correspond to those obtained by scanning electron microscope coupled with energy dispersive spectroscopy.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 2,568 Kバイト