チップ試作を取り入れたLSI設計教育への取り組み
チップ試作を取り入れたLSI設計教育への取り組み
カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: FIE10004
グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 教育フロンティア研究会
発行日: 2010/03/03
タイトル(英語): LSI design education introducing prototype chip
著者名: 大村 道郎(広島工業大学),田中 武(広島工業大学)
著者名(英語): Ohmura Michiroh(Hiroshima Institute of Technology),Tanaka Takeshi(Hiroshima Institute of Technology)
キーワード: 試作チップ|LSI設計教育|集積回路|Prototype chip|LSI design education|Integrated circuits
要約(日本語): 本学大学院電気電子工学専攻ではコースワークのひとつとして,「集積回路システム開発」という授業を行っている。昨年度のこの授業では,半導体プロセスや集積回路設計関連の知識を学んだ後FPGAを用いたLSI設計を体験させたが,半導体プロセスの知識と中の見えないFPGAが結びつきにくいという欠点があった。そこで今年度からチップの試作を体験する取り組みを導入した。本稿ではこの取り組みについて紹介する。
要約(英語): In Graduate School of Engineering, Hiroshima Institute of Technology, we have been teaching “Advanced System Development Technology of Integrated Circuits” as a course work. In this paper, we present a LSI design education introducing a prototype chip as a course work of the graduate school.
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 5,330 Kバイト
受取状況を読み込めませんでした
