電子デバイス設計作製評価および解析システムの構築

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: FIE12045

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 教育フロンティア研究会

発行日: 2012/12/15

タイトル(英語): Evaluation and Analysis System electronic device design and fabrication

著者名: 田中 武(広島工業大学),荒木 智行(広島工業大学),山内 将行(広島工業大学),豊田 宏(広島工業大学)

著者名(英語): TANAKA Takeshi(Hiroshima Institute of Technology),ARAKI Tomoyuki(Hiroshima Institute of Technology),YAMAUCHI Masayuki(Hiroshima Institute of Technology),TOYOTA Hiroshi(Hiroshima Institute of Technology)

キーワード: 電子デバイス|設計|解析|electron device |design|analysis

要約(日本語): 電子デバイス設計作製評価および解析システムを構築したので報告する。

要約(英語): LSI systems are used at all places in the world. A number of different technologies are used to produce LSI systems, therefore it becomes difficult to understand these systems. In this paper, we report on some instructions and an overview was developed as a business infrastructure education to FY 2011 in Department of Electronics and Information Engineering, Hiroshima Institute of Technology "system evaluation and analysis produced electronic device design", of undergraduate education that we have actually introduced to.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 979 Kバイト