障害発生源としての静電気放電

カテゴリ: 技術報告

論文No: 1387

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門

発行日: 2016/11/25

タイトル(英語): Electrostatic discharge as a failure source

著者名: 障害発生源としての静電気放電現象に関する調査専門委員会

著者名(英語): Investigating R&D Committee on the electrostatic discharge phenomena as a failure source

キーワード: 静電気放電，マイクロギャップ，表面帯電，障害事例／Electrostatic discharge, Micro gap, Surface charging, Trouble case

要約(日本語): 　「障害発生源としての静電気放電現象に関する調査専門委員会（委員長　小田 哲治（東大））」は，障害発生源である静電気放電現象に焦点を当て，広くその情報の普及展開を図るために調査活動を進めてきた。本委員会では，基礎的な帯電・静電気放電現象に焦点を当て，関連する製品事例として，微小放電間隔での静電気放電問題や静電気エネルギーによるトラブルなどを対象に整理を行った。具体的には，静電気放電現象の基礎・発生メカニズムとして，マイクロギャップ放電・絶縁破壊特性，絶縁体表面帯電特性，および帯電体からの静電気放電特性を，障害事例とその対策技術として，電子デバイス，HDD，磁気テープ，回路基板などを対象に整理し，これらを技術報告書としてまとめた。

要約(英語): This committee was organized under the chair of Tetsuji Oda (The University of Tokyo) to investigate and disseminate accurate knowledge on the electrostatic discharge phenomenon as a threat to electromagnetic compatibility. In the committee meetings, we focused not only on the electrostatic charge accumulation/ discharge phenomena, but also on many practical issues caused by such electrostatic discharge. In this technical report, recent studies on discharge characteristics across micrometer-scale gap, electrostatic charge accumulation phenomena on insulator surface and subsequent electrostatic discharge phenomena are investigated. In addition, the electrostatic hazards and their handling methods to HDD, a magnetic tape, and circuit boards are also surveyed.

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