過渡電磁界の電子機器及び通信に対する障害

カテゴリ: 技術報告

論文No: 1450

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門

発行日: 2019/04/20

タイトル(英語): Interference of transient electromagnetic field to electronic equipment and communication system

著者名: 過渡電磁界の電子機器及び通信に対する障害調査専門委員会

著者名(英語): Investigating R&D Committee on interference of transient electromagnetic field to electronic equipment and communication system

キーワード: 放電，静電気放電(ESD)，電磁妨害，過渡電磁界，イミュニティ／Discharge, Electrostatic Discharge (ESD), Electromagnetic interference, Transient electromagnetic field, Immunity

要約(日本語): 電気接点間の放電や静電気放電(ESD)などの電磁界発生源は，非常に広い周波数帯域を有し，急峻な時間変動を伴う過渡的な電磁界である。この電磁界は，電子機器や通信機器の筐体あるいは空中線を介して，それらに障害を与えるばかりでなく，電源線，信号線，もしくは接地線を経由して機器のシステム内に侵入し，電気・電子素子の直接的な破損を又は回路の誤動作を誘発することが知られている。そこでこの電磁両立性（EMC）問題を解決するために，電磁環境技術委員会に設置された「過渡電磁界の電子機器及び通信に対する障害調査専門委員会」（2014年4月～2017年3月）では主に，(1) 過渡電磁界測定のための新しい電磁界プローブの検討 (2) ESDに伴うインパルス性の過渡電磁波の放射モデル (3) 電極材質の違いによる放電電流波形の特性 (4) ESDイミュニティ試験方法の最適化 (5) 放電のEMCモデリングとシミュレーション (6) 放電・ESD等の過渡電磁界の電子機器及び通信への影響評価 (7) 意図的なインパルス雑音による電子通信機器への故障注入メカニズム の各項目について検討を行った。本報告は調査専門委員会における調査結果をまとめたものである。

要約(英語): Electromagnetic field sources such as discharge between electrical contacts and electrostatic discharge (ESD) have a very wide frequency band and are transient electromagnetic fields with sharp time variation. The electromagnetic field interferes an electronic device and a communication device via an enclosure or an antenna of them. Furthermore, the field penetrates the system of the equipment via mains lines, signal lines, and ground line, and induces direct breakage of the electric device or malfunction of the inside circuit. Therefore, the investigating R&D Committee “Interference of transient electromagnetic field to electronic equipment and communication system” was established under the Technical Committee of Electromagnetic Compatibility (April 2014 - March 2017) to solve this electromagnetic compatibility (EMC) problem. Mainly examined the following items in the committee. This report summarizes the research results of the committee. (1) Investigation of a new electromagnetic-field probe for transient field measurement (2) Radiation model of impulsive ESD transient electromagnetic-field (3) Characteristics of discharge current waveform due to material of electrodes (4) Optimization of ESD immunity test method (5) EMC modeling and simulation of discharges (6) Interference evaluation on electronic equipment and communications caused by ESD transient field (7) Fault injection mechanism for communications equipment due to intentional impulse electromagnetic interference

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