ラインセンサを用いた広範囲高速3D計測-1ショット3Dプロファイラ-

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: GID08020

グループ名: 【D】産業応用部門　一般産業研究会

発行日: 2008/11/28

タイトル(英語): 1-shot 3D Profiler: Wide-Field 3D Measurement Method Based on Fringe Analysis with a Line Sensor

著者名: 長谷川 友紀(オムロン株式会社),光本 大輔(オムロン株式会社),諏訪 正樹(オムロン株式会社)

著者名(英語): Yuki Hasegawa(Omron Corp.),Daisuke Mitsumoto(Omron Corp),Masaki Suwa(Omron Corp.)

キーワード: アクティブ三角測量|縞解析|位相|active triangulation|fringe pattern analysis|phase

要約(日本語): 本論文では，複数CCDを持つ1台のラインセンサと空間縞解析法を用いて１スキャンで広範囲を高速に3次元計測する技術を提案する．空間縞解析法の課題である反射特性の違いによる輝度変化とワークの高さ変化で生じた縞パターンのゆがみによる輝度変化の分離に対して，必要な2種類の画像を1台のラインセンサで同時に取得できる構成とすることでこれを実現し，精度においても平面，色サンプルを用いて問題がないこと確認したので報告する．

要約(英語): We propose a 3D measurement method based on spatial fringe pattern analysis. This method also requires a line sensor to deal with a wide measurement area. To exploit a spatial fringe analysis, reflectance properties of the measurement surface should be no

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 711 Kバイト