一般照明下での表面下散乱の計測

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: GID08021

グループ名: 【D】産業応用部門　一般産業研究会

発行日: 2008/11/29

タイトル(英語): Measurement of Subsurface Scattering under Generic Illumination

著者名: 向川 康博(大阪大学),鈴木 和哉(大阪大学),八木 康史(大阪大学)

著者名(英語): Yasuhiro Mukaigawa(Osaka University),Kazuya Suzuki(Osaka University),Yasushi Yagi(Osaka University)

キーワード: 表面下散乱|ダイポール近似モデル|半透明物体|インバースレンダリング|subsurface scattering|dipole approximation model|translucent object|inverse rendering

要約(日本語): 半透明物体では，表面下散乱と呼ばれる媒質内部における光の散乱が発生する．本研究では，媒質が均一な半透明物体を対象とし，一般照明下で撮影された画像から，表面下散乱を計測する手法を提案する．提案手法では，物体表面間の距離を量子化することで，表面下散乱モデル中の散乱項の値を線形的に求める．さらに，散乱項にダイポール近似モデルを当てはめることで，対象物体の表面下散乱を解析する．材質の異なるいくつかの半透明物体に対して本手法を用いることで，材質に固有の表面下散乱パラメータを推定できることを確認した．

要約(英語): The scattering effect of incident light, called subsurface scattering, occurs under the surface of translucent objects. In this paper, we present a method for measuring the subsurface scattering using a single image taken under generic illumination. In

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,041 Kバイト