日本の透過型電子顕微鏡開発の歴史

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: HEE13006

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 電気技術史研究会

発行日: 2013/01/10

タイトル(英語): The History of Transmission Electron Microscopy

著者名: 小島 建治(分析産業人ネット)

著者名(英語): KOJIMA KENJI(Professionals' Network in Advanced Instrumentation Society )

キーワード: 透過型電子顕微鏡|装置開発|歴史|TEM|Original Equipment |History

要約(日本語): 透過型電子顕微鏡の開発の黎明期について日本での開発を中心に述べる。透過型電子顕微鏡の開発は第2次世界大戦中のこともあり当時の科学知識をもとに日本学術振興会の委員会を中核にして産学官の協力により行われた。その後、透過型電子顕微鏡は分析機器として産業界で活用されるようになり、日本製の機器が世界的なシェアをもった。

要約(英語): The development of electron microscopes in Japan started not with the introduction of machines from overseas but the rather with the developument of original equipment based on knowledge obtained

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 803 Kバイト