ボイド放電による固体絶縁物の長期劣化とAEセンサ出力との相関性に関する検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: HV07165

グループ名: 【B】電力エネルギー部門　高電圧研究会

発行日: 2007/11/27

タイトル(英語): Experimental Investigation for the Relationship between Long-term Degradation by Void Discharge and Output Signal of the AE Sensor

著者名: 佐藤純一 (東芝),阪口 修(東芝),塩入 哲(東芝),宮川 勝(東芝),本間三孝 (東芝),鈴木 克巳(東芝)

著者名(英語): Junichi Sato(Toshiba corporation),Osamu Sakaguchi(Toshiba corporation),Tetsu Shioiri(Toshiba corporation),Masaru Miyagawa(Toshiba corporation),Mitsutaka Homma(Toshiba corporation),Katsumi Suzuki(Toshiba corporation)

キーワード: スイッチギヤ|固体絶縁|エポキシ|部分放電|ＡＥセンサ|絶縁診断

要約(日本語): 本論文は、エポキシ樹脂を伝搬するＡＥ波の伝搬特性を調査し、その伝搬速度を求め、既知のボイドが存在する注型品を用いて、その妥当性を検討した。さらに、ボイド注型品を長期課電劣化し、ボイド放電による長期劣化とＡＥセンサ出力との相関性について、検討した。

要約(英語): This paper describes the propagation characteristic of acoustic waves which propagate the inside of a solid insulation, and the relationship between long-term degradation by void discharge and output signal of the AE sensor.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 526 Kバイト