Expectation of breakage mechanism of curved wires caused by lightning impulse current

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: HV08095

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門　高電圧研究会

発行日: 2008/11/05

タイトル(英語): Expectation of breakage mechanism of curved wires caused by lightning impulse current

著者名: 胡小博 (中央大学),JosefKindersberger (TechnischeUniversitaetMuenchen),稲葉 次紀(中央大学)

著者名(英語): Xiaobo Hu(Chuo University),Josef Kindersberger(Technische Universitaet Muenchen),Tsuginori Inaba(Chuo University)

キーワード: 破断メカニズム|雷インパルス電流|銅線|Breakage mechanism|Lightning impulse current|Copper wires

要約(日本語): 従来の研究によると、直径1mm級の直線銅導体は直流では表面から周囲への安定的な熱伝達により100A級の小電流で溶融される。さらに、直径0.1mm級の細い導体では固有の比溶融ジュール積分値：（(j2t)m断熱状態）によりインパルス電流で昇温し溶断される。しかし、今回の研究結果により、細い銅線はジュール発熱により、昇温/溶断されたが、銅線が太くなると、電磁力及び表皮効果が破断の主因になると思われている。銅線が直径2mmを越えて更に太くなると、電磁力及び表皮効果の影響が更に大きくなると思われる。

要約(英語): In our past studies, we confirmed that thick straight copper wires of 1mm and over it were broken in a solid state before melting. The physical effect on wire performance was investigated. The test data suggest that ohmic heating is the main reason for th

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,788 Kバイト