コンデンサバンク開閉試験法の開発

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: HV11034

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 高電圧研究会

発行日: 2011/11/10

タイトル(英語): Development of switching test method for capacitor bank

著者名: 種子田 賢宏(東芝),工藤 喜悦(東芝),宮崎 健作(東芝),森 正(東芝)

著者名(英語): Taneda Takahiro(Toshiba corporation),Kudo kietu(Toshiba corporation),Miyazaki Kensaku(Toshiba corporation),Mori Tadashi(Toshiba corporation)

キーワード: コンデンサバンク|合成試験|capacitor bank|synthetic test

要約(日本語): IEC規格のコンデンサバンク用開閉装置の試験責務において、日本国内では問題視されていないback-to-backコンデンサバンク開閉試験責務が規定されている。特にBC2責務においては突入電流の値についても規定され、波高値が大きい、高周波であるといった特徴がある。今回、245(kV)開閉装置を対象とし合成試験法を用い単相試験によるコンデンサバンク開閉試験を有負荷CO操作で行ったので紹介する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 541 Kバイト