ポリマーがいしの汚損フラッシオーバ電圧に及ぼす要因と人工汚損試験方法のあり方

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: HV11109

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 高電圧研究会

発行日: 2011/12/16

タイトル(英語): Factors influencing on the contamination flashover voltage of a polymer insulator and proposal for artificial contamination test method for polymer insulators

著者名: 松岡 良輔(中部大学),坂西 健治(中部大学),近藤 邦明(日本ガイシ),畔柳 俊幸(電力中央研究所)

著者名(英語): Ryosuke Matsuoka(Chubu University),Kenji Sakanishi(Chubu University),Kuniaki Kondo(NGK INSULTORS,LTD.),Toshiyuki Kuroyagi(Central Research Institute of Electric Power Industrye)

キーワード: ポリマーがいし|汚損フラッシオーバ電圧|人工汚損試験方法|polymer insulator|contamination flashover voltage|artificial contamination test method

要約(日本語): 撥水性を有するポリマーがいしの汚損フラッシオーバのメカニズムは、磁器がいしなどと異なる。従って、磁器がいしの汚損試験方法をそのまま使って、汚損湿潤時の性能や特性を評価して、それを基に、設計したり、保守をすると、事故を招いたりする恐れがある。ポリマーがいしの汚損フラッシオーバのメカニズムを磁器がいしのメカニズムと比較し、フラッシオーバ電圧に及ぼす要因についてこれまでに得られている知見を整理し、ポリマーがいしの人工汚損試験方法のあり方を提案したい。

原稿種別: 日本語

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