プリント配線微小ギャップの絶縁破壊電圧に及ぼす印加電圧波形および絶縁種の影響

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: HV13054

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 高電圧研究会

発行日: 2013/01/29

タイトル(英語): Influences of applied voltage waveform and insulation type on breakdown voltage of the small gap formed by printed wiring

著者名: 清末 真生(九州工業大学),重久 研成(九州工業大学),大塚 信也(九州工業大学)

著者名(英語): Naoki Kiyosue(Kyushu Institute of Technology ),Kensei Shigehisa(Kyushu Institute of Technology ),Shinya Ohtsuka(Kyushu Institute of Technology )

キーワード: 絶縁破壊|プリント配線|微小ギャップ|シリコーン油|breakdown|printed wiring |small gap|silicone oil

要約(日本語): プリント配線のファインパターン化から配線間の絶縁破壊電圧(FOV)特性が検討されている。筆者らはプリント配線ESD侵入サージによる半導体デバイスの損傷の懸念から、ESDサージのFOV特性を検討している。他方、プリント配線微小ギャップを電極とする自己回復性ヒューズSRFを開発している。このような背景のもと、印加電圧波形(直流、交流、ESDサージ)のFOV特性の理解やSRF耐電圧評価の観点から、大気中及びシリコーン油中でFOV特性を調べた。

原稿種別: 日本語

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