真空中における小型孔開き電極の絶縁破壊特性及び電界増倍係数の孔数依存性

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: HV14041

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 高電圧研究会

発行日: 2014/01/23

タイトル(英語): Dependence of vacuum electrical breakdown field and field enhancement factor on the number of apertures drilled in small electrodes

著者名: 石田 諒(埼玉大学),山納 康(埼玉大学),小林 信一(埼玉大学),小島 有志(日本原子力研究開発機構),花田 磨砂也(日本原子力研究開発機構),齊藤 芳男(高エネルギー加速器研究機構)

著者名(英語): Ishida Ryo(Saitama University),Yamano Yasushi(Saitama University),Kobayashi Shinichi(Saitama University),Kojima Atsushi(Japan Atomic Energy Agency),Hanada Masaya(Japan Atomic Energy Agency),Saito Yoshio(High Energy Accelerator Research Organization)

キーワード: 無酸素銅|真空|絶縁破壊|電極|電界電子放出電流|電界増倍係数|Oxygen-free copper|Vacuum|Breakdown|Electrode|Field-emission current|Field enhancement factor

要約(日本語): 日本原子力研究開発機構が有するJT-60負イオン源では、多孔加速電極間で発生する真空中絶縁破壊が問題となっており、JT-60SAへ向けてその機構解明が求められている。本研究では、多孔電極の絶縁破壊電界を決定するパラメータの一つとして考えられる電界増倍係数に焦点を当てた。孔数の異なる小型孔開き電極に対して絶縁破壊試験を行い、絶縁破壊電界及び電界増倍係数の孔数依存性を取得したので、報告を行う。

要約(英語): It is vacuum breakdown between multi-aperture grids in the JT-60 negative ion source that limits high voltages to accelerate negative ions. To achieve higher acceleration voltage for the next generation JT-60SA device, the vacuum breakdown mechanism and characteristics should be clarified. In this paper, we focused on field enhancement factor β which is considered as one of the parameters that determines breakdown of multi-aperture grid. Additionally we investigated the relationship between β and breakdown field or number of apertures.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,295 Kバイト