真空遮断器における接点損傷の投入電流依存性

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: HV17102

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 高電圧研究会

発行日: 2017/11/17

タイトル(英語): Breakdown Electric Field between Damaged Contact with Making Current in Vacuum Interrupter

著者名: 道念 大樹(三菱電機),越智 聡(三菱電機),高井 雄一(三菱電機)

著者名(英語): Taiki Donen(Mitsubishi Electric),Satoshi Ochi(Mitsubishi Electric),Yuichi Takai(Mitsubishi Electric)

キーワード: 真空遮断器|投入電流|溶着力|破壊電圧|Vacuum Interrupter|Making Current|Welding Force|Breakdown Voltage

要約(日本語): 真空遮断器の電流投入動作に伴う接点間の耐電圧低下量および接点溶着力の測定を実施した。電流値が数kA以下の領域では、投入時のアーク発生時間が長いほど接点損傷が少ない。真空アークの拡散が時間経過と共に進み電流密度が下がった結果である。一方で、電流値が数10kAの領域では、接点損傷は電流値とアーク発生時間の両者に強く依存する。上記の実験結果に基づき、接点損傷を温度計算によって推定する計算モデルを作成した。

要約(英語): This paper reveals the mechanism of the contact damage due to making current arc in vacuum interrupter. We classified the characteristic of contact damage into small current region and large current region, respectively.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,918 Kバイト