短絡試験回路の固有TRVの電流零点の検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: HV17104

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 高電圧研究会

発行日: 2017/11/17

タイトル(英語): Investigation of Current Zero for Prospective Transient Recovery Voltage at Short Circuit Test

著者名: 澤田 裕季(東京電機大学),腰塚 正(東京電機大学),池田 久利(東京大学),萩森 英一(東京大学),新海 健(東京工科大学)

著者名(英語): Yuki Sawada(Tokyo Denki University),Tadashi Koshizuka(Tokyo Denki University),Hisatoshi Ikeda(The University of Tokyo),Eiichi Haginomori(The University of Tokyo),Takeshi Shinkai(Tokyo University of Technology)

キーワード: 電流零点|ダイオード|過渡回復電圧|近距離線路故障|端子短絡故障|Current Zero|Diode|Transient Recovery Voltage|Short Line Fault|Breaker Terminal Fault

要約(日本語): 日本短絡試験協会は遮断器の過渡回復電圧（TRV）測定系の不確かさについて検討を行っている。遮断器の遮断成否に影響するTRVは、理想遮断器で電流遮断した際の回路固有のもので検討すべきであるが、実際には遮断器の代わりにダイオードを用いた低電圧で計測されることが多い。本報告ではBTF（端子短絡故障）とSLF（近距離線路故障）の短絡試験回路におけるダイオード遮断時の電流零点について実測と解析より検討した結果を述べる。

要約(英語): Investigation results on current zero timing from measurement and analysis with two type diodes whose forward voltage drop are different in the electrical circuit for short circuit test of breaker terminal fault (BTF) and short line fault (SLF) are reported.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,919 Kバイト