マイクロ電極デバイスを用いたシリカ/エポキシ界面の破壊経路観察

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: HV19041

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 高電圧研究会

発行日: 2019/01/25

タイトル(英語): Direct Observation of Dielectric Breakdown Path at Silica/Epoxy Interface with a Micro-gap Electrode Device

著者名: 三川 莉奈(早稲田大学),大西 拓弥(早稲田大学),髙橋 滉平(早稲田大学),富田 基裕(早稲田大学),武良 光太郎(東芝三菱電機産業システム),中村 隆央(東芝三菱電機産業システム),吉満 哲夫(東芝三菱電機産業システム),渡邉 孝信(早稲田大学)

著者名(英語): Rina Sankawa(Waseda University),Takuya Onishi(Waseda University),Kohei Takahashi(Waseda University),Motohiro Tomita(Waseda University),Kotaro Mura(Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation),Takahiro Nakamura(Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation),Tetsuo Yoshimitsu(Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation),Takanobu Watanabe(Waseda University)

キーワード: ナノコンポジット|シリカ|界面|電気トリー|絶縁破壊|ＳＥＭ|Nano-Composite|Silica|Interface|Electrical Treeing|Dielectric Breakdown|SEM

要約(日本語): シリカ/エポキシナノコンポジットにおいて、ナノ粒子/ポリマー母体間の界面に生じる拘束層が、電気トリーの発生・進展にどのように影響を及ぼすかを実験的に検証するためのモデルとして、石英ガラス基板上にマイクロギャップ電極を形成し、その上にエポキシ樹脂を塗布した構造の評価用デバイスを考案した。電圧印加試験後にデバイスを電極間で破断し、電気トリーの断面観察を行うことで、破壊経路をナノスケールで特定する。

要約(英語): We developed a micro-gap electrode device on quartz substrate to investigate the dielectric breakdown resistance on constrained layer of silica/epoxy interface. After application of stress, the device is cut at the middle of the micro-gap by laser dicing, and the cross-section shows where the breakdown occurs in the vicinity of the silica/epoxy interface at sub-micron scale.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,486 Kバイト