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CIP法の過渡電磁界解析における散乱問題に対する適用可能性の検討

CIP法の過渡電磁界解析における散乱問題に対する適用可能性の検討

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カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: HV20019

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 高電圧研究会

発行日: 2020/01/23

タイトル(英語): Applicability of the CIP method to scattering problems in transient electromagnetic analysis

著者名: 安藤 優生(同志社大学),馬場 吉弘(同志社大学),長岡 直人(同志社大学)

著者名(英語): Yuki Ando(Doshisha University),Yoshihiro Baba(Doshisha University),Naoto Nagaoka(Doshisha University)

キーワード: CIP法|FDTD法|散乱問題|CIP method|FDTD method|scattering problem

要約(日本語): セミ・ラグランジュ法に基づくCIP (Constrained Interpolation Profile)法は電磁界解析手法の一つである。現在一般的に用いられている手法と比べ,高速かつ高精度の解析が可能であるという利点を持つ。しかしながら,散乱問題への適用が困難であり,実用化には至っていない。CIP法の原理から,その原因について推論する

要約(英語): The Constrained Interpolation Profile (CIP) method based on the semi-Lagrangian scheme is one of the electromagnetic field analysis methods. Compared to currently used methods, it has an advantage of being capable of high-speed and high-precision analysis. Its applicability to the scattering problems are discussed in this paper.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,133 Kバイト

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