電力変換装置における半導体デバイスの簡易損失・温度計算方法

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IEA08012

グループ名: 【D】産業応用部門　産業電力電気応用研究会

発行日: 2008/06/07

タイトル(英語): Power Loss and Temperature Calculation of IGBT Modules

著者名: 高久 拓(富士電機デバイステクノロジー),五十嵐 征輝(富士電機デバイステクノロジー),宮坂 忠志(富士電機デバイステクノロジー)

著者名(英語): Taku Takaku(Fuji Electric Device Technology),Seiki Igarashi(Fuji Electric Device Technology),Tadashi Miyasaka(Fuji Electric Device Technology)

キーワード: 損失計算|熱設計|過渡熱抵抗|負荷サイクル|シミュレーション・ツール|loss calculation|thermal design|transient thermal resistance|load cycle|simulation tool

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,092 Kバイト