単眼カメラによる高精度3D計測法の提案と電子部品検査

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IIS05009

グループ名: 【D】産業応用部門　産業システム情報化研究会

発行日: 2005/05/27

タイトル(英語): Proposal of Precise 3D Measurement Method with A Single Camera and Its Application to Electronic Device Inspection

著者名: 渡辺 隆(中京大学情報科学部),藤原 孝幸(中京大学情報科学部),輿水 大和(中京大学情報科学部)

著者名(英語): Takashi Watanabe(SCCS,Chukyo University),Takayuki Fujiwara(SCCS,Chukyo University),Hiroyasu Koshimizu(SCCS,Chukyo University)

キーワード: 電子部品| 画像処理| ステレオ計測| 検査アルゴリズム

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,308 Kバイト