画像処理による基線長計測による高精度単眼ステレオ3D計測法の提案と応用

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IIS05012

グループ名: 【D】産業応用部門　産業システム情報化研究会

発行日: 2005/11/25

タイトル(英語): A Method for Measuring Base Line Length by Image Processing and Its Application to Precise Single Camera Stereo System for Electronic Devices Inspection

著者名: 渡辺 隆(中京大学),草野 洗(中京大学),藤原 孝幸(中京大学),輿水 大和(中京大学)

著者名(英語): Takashi Watanabe(Chukyo University),Akira Kusano(Chukyo University),Takayuki Fujiwara(Chukyo University),Hiroyasu Koshimizu(Chukyo University)

キーワード: 電子部品| 画像処理| 単眼ステレオ計測| 基線長長さ| 検査アルゴリズム

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,217 Kバイト