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マルチスペクトル分光器を用いた内部欠陥の検出
マルチスペクトル分光器を用いた内部欠陥の検出
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カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: IIS06021
グループ名: 【D】産業応用部門 産業システム情報化研究会
発行日: 2006/03/20
タイトル(英語): Detection of Internal Defect by using Multispectrum Spectroscope
著者名: 長澤 信太郎(徳島大学),大恵俊一郎 (徳島大学),柏木 利幸(徳島県立工業技術センター)
著者名(英語): Shintaro Nagasawa(The University of Tokushima),Shunichiro Oe(The University of Tokushima),Toshiyuki Kashiwagi(Tokushima Prefectural Industrial Technology Center)
キーワード: スペクトル|マルチスペクトル分光器|スペクトル画像|マルチスペクトル空間|頻度画像|スペクトル距離画像
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 1,575 Kバイト
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