テスト特徴法に基づく逐次パタン学習とその時系列認識問題への応用

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IIS06027

グループ名: 【D】産業応用部門　産業システム情報化研究会

発行日: 2006/08/11

タイトル(英語): Successive pattern learning based on test feature classifier and its application to dynamic recognition problems

著者名: 坂田 幸辰(北海道大学大学院情報科学研究科･日本学術振興会特別研究員 DC),金子 俊一(北海道大学大学院情報科学研究科),田中 孝之(北海道大学大学院情報科学研究科)

著者名(英語): Yukinobu Sakata(JSPS Research Fellow,Graduate School of Information Science and Technology Hokkaido Univ.),Shun'ichi Kaneko(Graduate School of Information Science and Technology Hokkaido Univ.),Takayuki Tanaka(Graduate School of Information Science and Technology Hokkaido Univ.)

キーワード: パタン認識|テスト特徴法|逐次学習|時系列認識問題

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,192 Kバイト