単眼ステレオ計測法を用いた端子リード検査

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IIS06043

グループ名: 【D】産業応用部門　産業システム情報化研究会

発行日: 2006/08/12

タイトル(英語): Terminal Lead Inspection Method by Single Camera Stereo Measurement System

著者名: 渡辺 隆(中京大学),草野 アキラ(中京大学),藤原 孝幸(中京大学),輿水 大和(中京大学)

著者名(英語): Takashi Watanabe(Chukyo University),Akira Kusano(Chukyo University),Takayuki Fujiwara(Chukyo University),Hiroyasu Koshimizu(Chukyo University)

キーワード: 平坦度検査| 端子リード| 単眼ステレオ計測| 画像処理| 計測アルゴリズム

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,452 Kバイト